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一、CMOS图像传感器芯片概述

智能家居、智能城市以及智能造作共同组建了我们所生涯的智能环境。。。。。。随着生涯模式渐趋数据化，，，，，图像传感器成为衔接现实世界与数据网络的关键。。。。。。CIS是CMOS图像传感器（CMOS Image Sensor）的缩写，，，，，拥有尺寸幼、敏感度高、高度集成、功耗较低、成像速度快、成本较低等诸多利益，，，，，CIS芯片是摄像头主题零部件，，，，，而摄像头是所有智能科技中的沉要一环。。。。。。当前，，，，，CIS芯片已宽泛使用于手机、相机、汽车电子、安防等多个领域使用。。。。。。

疫情冲击下迫使生涯与工作模式bb贝博艾弗森官方网站数码化，，，，，智能生涯成为了新常态。。。。。。视像会议、网上进建、消毒清洁机械人、无人运输机等等，，，，，这类新的生涯方式使得全球CIS（CMOS图像传感器）需要出现了发作式增长，，，，，凭据IC Insights最新汇报，，，，，2021年全球CIS市场规；；；；；；８丛烤⒃龀ぶ228亿美元，，，，，预计到2025年全球CIS市场规模为336亿美元。。。。。。其中，，，，，手机为CIS利用规模最大的细分领域，，，，，预计到2025年达到157亿美元，，，，，而汽车则是增速最快的细分领域，，，，，预计将来5年的行业复合增速高达33.8%，，，，，规模提升至51亿美元。。。。。。安防监控摄像头、工业机械人、物联网等领域增长亦紧随其后。。。。。。

移动利用在越来越多地选取多摄像头和指纹扫描摄像头技术进行用户身份验证。。。。。。随着芯片设计复杂度的增长，，，，，所需测试功夫也在相应增长。。。。。。此表，，，，，汽车利用领域还面对着封装芯片测试中低和善高温测试的影响，，，，，分歧温度下的多路测试也使测试次数显著增长。。。。。。随着图像传感器越来越复杂化，，，，，不休设计出更多新职能，，，，，CIS测试需要也出现多样化。。。。。。

二、CMOS图像传感器芯片测试需要

（一）、DC&Function项测试

DC测试常见有OS、电压、电流等；；；；；；；Function测试常见有DFT和BITS有关的测试。。。。。。

（二）、光源与节造

由于CMOS图像传感器固有的器件结构特点，，，，，各个像素和各列像素都有独立的放大器，，，，，放大器中较幼的失配或误差城市产生图像传感器固定模式噪声。。。。。。因而在CMOS图像传感器投入使用之前必要对CMOS图像传感器进行校准。。。。。。CMOS图像传感器校准光源常用的有白炽灯、卤钨灯、LED灯。。。。。。白炽灯和卤钨灯存在发光效能低、功耗大等诸多问题。。。。。。相对于前两者，，，，，LED灯拥有节能、环保、长命命、体积幼、功耗幼等特点，，，，，因而选取LED作为CMOS图像传感器的校准光源。。。。。。

目前，，，，，LED光源常用的调光步骤有2种，，，，，一种为PWM调光，，，，，一种为DC调光；；；；；；；由于PWM调光，，，，，LED光源会呈显斓闪的问题，，，，，此刻大部门都用DC调光。。。。。。通过节造器节造分歧色温的LED光源，，，，，满足CIS sensor 的测试需要。。。。。。

（三）、Image图像测试

1、图像采集（需支持CPHY/DPHY接口和谈）

近年来随着CMOS图像传感器不休朝着高帧率化与高像素化的趋向发展，，，，，摄像头传输影像的数据量持续跃升。。。。。。为了有效地进行信号传输，，，，，通常使用MIPI D-PHY与MIPI C-PHY两类传输接口，，，，， D-PHY选取单独时钟同步线+数据Lane的传输结构，，，，，每条Lane是由2根差分线组成，，，，，抗滋扰能力和驱动能力强；；；；；；；而C-PHY则是选取没有独立时钟的3根电压驱动型引线组成的复杂传输结构，，，，，抗滋扰和驱动能力弱，，，，，因而对IC设计能力有着更高的要求。。。。。。但MIPI C-PHY由于选取5进造传输，，，，，可提供更高的吞吐量，，，，，优于D-PHY的二进造，，，，，传输量为其2.28倍，，，，，多为高端手机平台所选取。。。。。。

2、图像测试

常见的图像测试有Blemish Test、Black Test、White Test等测试项。。。。。。通过算法进行图像的鉴别和判断。。。。。。

三、CMOS图像传感器芯片测试规划

若何满足分歧测试需要，，，，，削减测试成本、加快测试功夫和产品上市功夫？？？？？bb贝博艾弗森官方网站科技开发出国内第一台250Mbps以上高机能数；；；；；；；旌闲藕挪馐曰，，，利用bb贝博艾弗森官方网站科技多年堆集的高速散布式通讯技术和高机能算法bb贝博艾弗森官方网站技术，，，，，提供一整套高机能低成本的CIS测试解决规划。。。。。。该解决规划支持高达64颗2.5Gbps MIPI D PHY接口采集满足了日益增长的高分辨率图像传感器需要，，，，，利用bb贝博艾弗森官方网站科技高达160Gbps散布式通讯技术实现高速图像采集，，，，，图像职能测试数据和DC数据无缝融合。。。。。。使用bb贝博艾弗森官方网站科技高机能算法bb贝博艾弗森官方网站技术能够大大加快图像算法处置功夫，，，，，大大提高整体测试效能，，，，，同时还允许客户实现定造化的图像测试算法来创建并；；；；；；；げ馐訧P。。。。。。
 

?将Tester IPC安插CIS Server+ATE Client

CIS Server:掌管CIS整体测试业务测试

ATE Client:掌管DC+Function测试

?CIS Server

使用IPC自带的HP卡，，，，，节造Prober或Handlerd的作为

使用USB线，，，，，节造光源作为

使用网络，，，，，节造ATE Client和IMAGE Client的作为

?IMG Client

使用CIS高速图像采集测试系统(ST8016C)，，，，，实现图像数据的采集，，，，，通过配置自造bb贝博艾弗森官方网站板卡实现图像测试的bb贝博艾弗森官方网站赋能。。。。。。

四、bb贝博艾弗森官方网站科技CIS测试规划优势

bb贝博艾弗森官方网站科技CIS测试规划有以下几点优势。。。。。。

（一）产品优势

1、全新架构设计：

1）选取最新先进的通讯技术框架，，，，，高机能，，，，，高靠得住性，，，，，矫捷扩大有保障；；；；；；；

2）各测试职能？？？？？榛，，，更换？？？？？榧纯墒迪址制绮馐孕枰；；；；；；；

3）上位机与机箱一体化设计，，，，，系统机能无瓶颈，，，，，整体更靠得住；；；；；；；

2、机能更壮大：

1）通讯带宽可达40Gbps，，，，，能够实现高机能实时测试和数据传输；；；；；；；

2）高度集成，，，，，单板能够集成更多职能？？？？？楹屯罚，，，系统能够集成更多通路；；；；；；；

3）精心设计的模拟电路，，，，，确保测试参数误差幼于0.1%；；；；；；；

4）基于FPGAbb贝博艾弗森官方网站技术，，，，，实现更壮大算力、实时调度和全并行测试；；；；；；；

5）支持大Pattern测试利用，，，，，最大Vector Deepth达192M行，，，，，加载速度满配置最快达到4.5分钟；；；；；；；

3、测试性价比高：

1）数字和混合信号架构设计，，，，，能够一次实现数字、模拟、射频信号测试；；；；；；；

2）针对客户利用进行优化设计，，，，，测试效能高，，，，，测试成本低；；；；；；；

3）针对设计公司和工厂提供分歧优化的设备。。。。。。

4、自有知识产权，，，，，深度定造

1）齐全自有知识产权，，，，，可凭据客户需要，，，，，开发定造测试规划，，，，，满足系统封装（SIP）、特色工艺(CIS/MEMS）等需要；；；；；；；

2）能够多方向扩大，，，，，测试？？？？？椤CBA；；；；；；；

3）凭据客户不变需要，，，，，利用bb贝博艾弗森官方网站科技成熟高机能数字测试机平台及高机能FPGA开发能力，，，，，援手客户开发传统测试机无法实现的测试规划和超高性价比测试规划。。。。。。

（二）规划优势

1、系统规格

?支持2.5Gbps MIPI D PHY接口，，，，，

?支持2.5Gsps ~3.5GspsC PHY （定造板卡）

?支持定造LVDS接口

?支持4~64颗并测

?支持4组40Gbps高速通讯接口

?支持250Mbps/500Mbps/1Gbps数字板卡

?支持最高160通路数字电源

?支持客户定造光源

?搭配专业SoC数字板卡，，，，，实现壮大的 SoC 测试能力

?支持DC数据和图像职能测试数据融合治理

?盛开FPGA内实现图像测试算法

2、一体化的操作界面

1)支持多种模式选择切换；；；；；；；

2)基于Eclips的IDE 开发环境，，，，，支持基于C/C++的开发，，，，，开发单一易学；；；；；；；

3)操作守护方便。。。。。。

3、算法bb贝博艾弗森官方网站优势

该测试规划占有高机能算法bb贝博艾弗森官方网站技术，，，，，能够大大提高整体测试功夫，，，，，同时也能够满足客户实现定造化算法的要求。。。。。。

4、不变靠得住

对比其他测试机厂家，，，，，据客户现场反馈！。。。。，，，设备长功夫运行不变靠得住；；；；；；；

（三）服务优势

1、更全面交钥匙规划

2、手把手赋能服务

?流程规范

?产品开发服务

? 驻厂服务

3、借鉴行业专家经验急剧优化迭代规划

? 行业深刻理解

? 急剧优化迭代

五、利用场景

CIS FT测试衔接示意图

以上就是带各人相识的CIS测试需要以及CIS芯片测试规划，，，，，欢迎想要相识更多的同学垂询。。。。。。