解决规划
存储芯片测试规划
行业测试挑战
规划概述
存储芯片测试规划概述
针对存储类芯片测试 ，，，，，，bb贝博艾弗森官方网站科技推出针对大中幼分歧芯片容量的测试规划：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。 。。。。。ST2500E、ST2500EX应对中幼容量存储芯片测试 ，，，，，，可别离支持512至1024路数字通路 ，，，，，，对于市场上EEPROM、中幼容量Nor Flash及嵌入式存储器有着优良的支持。 。。。。。适合的DIO通路与电源、高压源配比 ，，，，，，？ ？？？？？？？榛淖试 ，，，，，，使得多site扩大单一易行。 。。。。。高容量向量深度 ，，，，，，可满足中幼容量存储芯片的存储职能测试。 。。。。。系统、各？ ？？？？？？？榧涓咚偻ㄑ洞 ，，，，，，算法硬件调度 ，，，，，，可有效提升测试效能。 。。。。。
Flex10K-M系列是针对FLASH/EEPROM/SRAM等存储类芯片测试研发的大容量高密度数字测试系统 ，，，，，，系统能够提供多达2560数字通路 ，，，，，，768DPS通路 ，，，，，，支持ALPG算法 ，，，，，，能够支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片测试。 。。。。。
规划介绍
主题优势
CORE ADVANTAGES
有关产品
ST2500EX
支持1024数字I/O通路配置 ，，，，，，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500EX
支持1024数字I/O通路配置 ，，，，，，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500E
单机最高支持16块板卡 ，，，，，，最高支持512数字I/O通路
ST2500E
单机最高支持16块板卡 ，，，，，，最高支持512数字I/O通路
ST2500A
单机支持16个槽位 ，，，，，，支持分歧职能板卡混插
ST2500A
单机支持16个槽位 ，，，，，，支持分歧职能板卡混插
ST2516/ST2532
160~1280数字通路 ，，，，，，160~1280PPMU通路 ，，，，，，20~160DPS
ST2516/ST2532
160~1280数字通路 ，，，，，，160~1280PPMU通路 ，，，，，，20~160DPS
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