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国产数字机 测试中国芯
荆门bb贝博艾弗森官方网站科技推出LPDDR4/LPDDR4X协同测试解决规划：沉构高性价比内存测试蹊径
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随着LPDDR5/LPDDR5X在旗舰智能手机中的急剧遍及 ，，，，，LPDDR4及LPDDR4X凭借其成熟的出产工艺、优异的能效比以及极具竞争力的芯片成本 ，，，，，依然是中端移动设备、平板电脑、超薄笔记本电脑、汽车电子及嵌入式系统等领域的主题内存选择。 。。。。。。然而 ，，，，，传统测试规划在面对这类成熟芯片时 ，，，，，却面对着日益凸起的成本与效能矛盾：
FT测试成本高：AC参数测试（时序参数、时钟频率、成立/维持功夫等）与高速接口测试（DQ/DQS信号齐全性、抖动容限、误码率等）对测试设备要求极高 ，，，，，依赖高端ATE设备 ，，，，，导致单颗芯片测试成本居高不下。 。。。。。。
SLT测试效能低：系统级验证必要在真实设备或模拟环境中运行 ，，，，，环境复杂、故障定位难题、测试效能低、兼容性覆盖不及。 。。。。。。若何在保障质量的前提下 ，，，，，为LPDDR4/LPDDR4X这类成熟但用量巨大的存储芯片提供更经济高效的测试蹊径 ，，，，，已成为产业链的共同诉求。 。。。。。。
bb贝博艾弗森官方网站科技解决规划：协同优化测试流程
针对上述挑战 ，，，，，bb贝博艾弗森官方网站科技依附在半导体测试领域的深厚堆集 ，，，，，创新性地推出了“低速FT测试 + 高并SLT测试”协同规划 ，，，，，通过流程沉构与工作再分配 ，，，，，在不就义测试覆盖度的前提下 ，，，，，显著降低测试成本并提升测试效能。 。。。。。。
1. 低速FT测试：聚焦基础验证 ，，，，，降低设备依赖
该规划在FT阶段选取bb贝博艾弗森官方网站科技自研的ST2500E/ST2500EX测试机 ，，，，，专一于芯片封装后的主题基础验证 ，，，，，对LPDDR4/LPDDR4X芯片进行精准的“瘦身”测试：
?测试领域：DC参数测试、基础职能测试、靠得住性测试等主题项目 ，，，，，确保芯片根基电气个性达标
? ALPG职能支持：内置存储测试算法天生能力 ，，，，，支持MarchC、Rowhammer、Data Retention、Continuity Data等20余种通例存储测试算法
? 成本优化逻辑：将高速测试需要后移至SLT环节 ，，，，，预防FT阶段对高端ATE设备的依赖 ，，，，，大幅降低测试机台投入与单颗测试成本
2. 高并SLT测试：系统级深度验证 ，，，，，补全测试维度 ，，，，，极速吞吐
在SLT环节 ，，，，，bb贝博艾弗森官方网站科技选取高并测分选机 + 自研FPGA测试板与CPU测试板双架构规划 ，，，，，实现FT阶段省略的AC参数测试、高速接口测试以及真实系统场景验证 ，，，，，将测试吞吐量推向极致：
? 并测能力：支持256颗芯片同步测试 ，，，，，彻底开释产能
? 参数调控：
- 速度领域：1066-4266 MT/s可调
- 电压精度：VDD1/VDD2/VDDQ ±5mV可调
- 电流监测：Idd1/Idd2/Iddq ≤2mA精度
? 环境覆盖：支持-40℃至125℃全温域测试
? 时序验证：支持tCL/tWR/tRFC等关键时序参数自适应测试
规划亮点：低成本、高效能的协同测试之路
1、测试项目协同：将FT阶段省略的AC/高速测试融入SLT环节
在传统测试流程中 ，，，，，AC参数测试与高速接口测试往往依赖高端ATE设备在FT阶段实现 ，，，，，导致测试成本居高不下。 。。。。。。bb贝博艾弗森官方网站科技解决规划沉新划分测试工作：FT阶段仅保留DC参数测试、基础职能测试和靠得住性测试 ，，，，，自动省略对设备要求较高的AC与高速测试项目 ；；；； ；；；而将这些项目后移至SLT阶段 ，，，，，利用系统级环境实现验证。 。。。。。。这种测试项主张前后协同 ，，，，，既保障了测试覆盖的齐全性 ，，，，，又显著降低了对高端FT设备的依赖 ，，，，，实现了成本与质量的平衡。 。。。。。。
2、双验证架构：FPGA规划与CPU规划互补协同
SLT测试环节选取FPGA测试板与CPU测试板双架构规划。 。。。。。。其中 ，，，，，FPGA规划可直接对存储芯片物理地址进行底层节造 ，，，，，支持AC时序参数（如tCL、tWR、tRFC等）的实时动态调整 ，，，，，参数批改后无需沉启系统 ，，，，，测试效能高 ，，，，，尤其适应时序边际验证和算法调试。 。。。。。。CPU规划则基于真实系统环境进行模拟验证 ，，，，，可能更切近现实利用场景 ，，，，，有效发现系统兼容性问题。 。。。。。。两种架构互为补充 ，，，，，既保障了底层物理参数的可控性 ，，，，，又两全了上层利用场景的真实性。 。。。。。。
3、可扩大设计：支持客户定造专用测试算法与场景
规划不仅内置了MarchC、Rowhammer、Data Retention等20余种通例存储测试算法 ，，，，，还充分思考了差距化利用需要。 。。。。。？？？？？？？？突Э善揪葑陨硇酒鲂院屠贸【 ，，，，，定造专用测试算法或特殊测试用例。 。。。。。。这种可扩大设计使得测试平台可能矫捷适配分歧客户、分歧产品的个性化验证需要 ，，，，，提升解决规划的通用性与适应性。 。。。。。。
4、为客户创造主题价值
首先 ，，，，，在效能提升方面 ，，，，，SLT环节支持256颗芯片并行测试 ，，，，，大幅缩短了系统级验证周期 ；；；； ；；；同时FPGA规划支持时序参数在线调整 ，，，，，预防了频仍沉启系统带来的功夫损耗 ，，，，，显著提升了调试与批量测试的效能。 。。。。。。其次 ，，，，，在成本优化方面 ，，，，，通过将高速测试工作从FT阶段剥离至SLT环节 ，，，，，降低了对高端ATE设备的依赖性 ，，，，，使成熟芯片无需为冗余的高速测试能力支付额表设备成本 ，，，，，整体测试资源投入越发合理。 。。。。。。最后 ，，，，，在质量保险方面 ，，，，，FPGA与CPU双测试架构实现了交叉验证 ，，，，，可能更有效地检出系统兼容性缺点 ；；；； ；；；共同全温域（-40℃至125℃）下电压（±5mV精度）与电流（≤2mA精度）的精准实时监控 ，，，，，充分保险了芯片在各类极端工况下的持久靠得住性。 。。。。。。
bb贝博艾弗森官方网站科技通过低速FT与高并SLT的深度协同 ，，，，，以工作沉构实现成本瘦身 ，，，，，以双架构并行使测试不留死角 ，，，，，以256路并行开释规模效能。 。。。。。。用更经济的方式 ，，，，，守住每一颗芯片的品质底线。 。。。。。。bb贝博艾弗森官方网站科技 ，，，，，正以求实创新之力 ，，，，，为存储产业链提供高性价比测试的新标杆。 。。。。。。
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